TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): 7925
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
可檢測(cè)TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合**等缺陷
具備自動(dòng)對(duì)焦功能，可克服載盤制造公差內(nèi)的高度差異
檢測(cè)完成后可依設(shè)定規(guī)格挑揀**品
提供比人工目檢更佳的可靠度及重復(fù)性
每小時(shí)*高可檢測(cè)3600顆待測(cè)物
自動(dòng)化上下料盤，減少人員上下料時(shí)間
提供完整的檢測(cè)資料，包含檢測(cè)數(shù)據(jù)及缺陷影像以供工程分析
TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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可檢測(cè)TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合**等缺陷
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具備自動(dòng)對(duì)焦功能，可克服載盤制造公差內(nèi)的高度差異
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檢測(cè)完成后可依設(shè)定規(guī)格挑揀**品
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提供比人工目檢更佳的可靠度及重復(fù)性
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每小時(shí)*高可檢測(cè)3600顆待測(cè)物
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自動(dòng)化上下料盤，減少人員上下料時(shí)間
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提供完整的檢測(cè)資料，包含檢測(cè)數(shù)據(jù)及缺陷影像以供工程分析
Chroma 7925為自動(dòng)化TO-CAN封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)，可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進(jìn)行檢測(cè)。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于載盤可能存在制造公差導(dǎo)致待測(cè)物對(duì)焦距離均不相同，Chroma 7925配置了自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，可自動(dòng)計(jì)算待測(cè)物之對(duì)焦距離并進(jìn)行補(bǔ)償，以確?？梢匀〉们宄臋z測(cè)影像。
使用者可以自由設(shè)定良品與**品之規(guī)則及缺陷編碼，并依據(jù)編碼進(jìn)行挑揀。從上片、檢測(cè)、挑揀及下片均為全自動(dòng)化流程，大幅降低人員操作及制程管理發(fā)生錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。檢測(cè)完成后，工程師可以取得詳細(xì)的缺陷量化數(shù)據(jù)，以及儲(chǔ)存缺陷影像以利于再判讀。相較于人工目檢無法保留檢測(cè)資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有助于分析制程問題，并進(jìn)一步提升產(chǎn)品良率。
TO-CAN Defect Items
